Rietveld法全谱拟合已成为Ｘ射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共为四章，侧重从操作示例来介绍Rietveld法的原理和精修基本过程。第一章简要介绍了Rietveld法结构精修的发展概况和基本原理。第二章主要介绍EXPGUI-GSAS软件安装和界面。第三章简要介绍Rietveld法Ｘ射线多晶衍射数据的实验技术，以简单的例子演示EXPGUI-GSAS软件Rietveld精修的基本过程、精修结果的提取以及图谱的绘图，并给出了空间群设定问题的解决、精修角度范围设定和定制EX-PGUI等内容。第四章给出了五个提高练习示例，包括仪器参数文件的建立、含非晶混合物的定量分析、LeBail法拟合及占位修正、峰形参数计算晶粒尺寸和微观应变以及批量精修等。本书具有很强的实用性，可以作为材料、化学以及地质等领域使用Rietveld法进行结构精修的研究人员的入门参考书，也可以作为本科生、研究生教学的实验教材。

1 Rietveld法结构精修
1.1 Rietveld法结构精修发展概况
1.2 Rietveld法基本原理
1.3 参数修正顺序与结果判据
1.3.1 参数修正的顺序
1.3.2 精修的数值判据
1.3.3 精修的图示判断
1.4 精修过程出现的问题和对策
1.5 Rietveld法结构精修的应用
1.5.1 修正晶体结构
1.5.2 相变研究和点阵常数测定
1.5.3 物相定量分析
1.5.4 晶粒尺寸和微应变测定
2 EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍
2.1 GSAS软件简介
2.2 EXPGUI-GSAS软件的安装
2.3 EXPGUI-GSAS软件界面介绍
2.3.1 菜单栏
2.3.2 选项卡界面
2.3.3 EXPGUI帮助内容
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