姜山，中国原子能科学研究院研究员。

章加速器质谱学基础001
1.1质谱学基础知识001
1.1.1质谱学的发展历史002
1.1.2质谱仪003
1.2离子源电离技术007
1.2.1有机质谱电离源007
1.2.2无机质谱和同位素质谱离子源009
1.3离子质量分析技术010
1.3.1电磁质量分析器010
1.3.2无磁质量分析器013
1.4加速器015
1.4.1加速器概念及历史发展016
1.4.2加速器类别017
1.4.3加速器质谱仪中的加速器021
1.5射线探测技术与离子的质谱检测022
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本书为"十三五"国家重点图书出版规划项目"核能与核技术出版工程·优选粒子加速器系列"之一。加速器质谱技术（AMS）是基于加速器技术和粒子探测技术的一种同位素质谱技术，是属于加速器、粒子探测器以及质谱学的交叉学科。本书内容主要包括质谱仪、加速器和探测器的概念、原理、结构等；加速器质谱仪的测量方法；AMS在核科学、考古学、地学、生命科学和药物开发、环境和资源科学等领域的应用。本书读者对象为加速器质谱仪的测试运行维护者、应用研究者、各类用户（环境、资源、设施、医药、食品、材料等）以及相关高校师生和青年学者。