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图书 系统测试性设计分析与验证(高等学校通用教材)
内容
编辑推荐

本书是在多年科研、教学和参与设备研制的基础上,吸收国内外测试性研究成果,参考有关标准、文章、研究报告和图书编写而成的。书中全面阐述了测试性与诊断、参数和指标、设计工作项目、测试性要求和诊断方案、测试点与诊断策略、指标分配和预计以及测试性设计和验证等技术及方法。测试性和机内测试(BIT)技术是首先在航空电子领域发展起来的,所以许多基础理论是针对电子系统和设备的,不少内容是以航空机载设备为例说明的。但本书介绍的测试性基本设计分析思想和技术,各类系统和设备均可参照应用。

本书的编写注意到了科学性和实用性,力求结合国情,从系统性和工程实用观点出发组织有关章节内容。它能作为贯彻测试性国家军用标准的应用指南,并成为一本有用的教学参考书,为从事测试性和诊断技术研究的工程技术人员提供参考。

内容推荐

测试性(testabmty)是使系统和设备的监控、测试与诊断简便而且迅速的一种设计特性,与系统维修性、可靠性和可用性密切相关。本书全面介绍了测试性设计分析与验证的有关理论和方法。内容包括:测试性和诊断概念、度量参数和指标、测试性要求和诊断方案、测试点与诊断策略、指标分配和预计以及测试性设计和验证等技术及方法。

本书注意科学性与实用性相结合,既可作为大专院校相关专业的教材、参考书,也可作为从事维修性、测试性及测试与诊断等工作的工程技术和研究人员的参考书。

目录

第1章 绪论

第2章 测试性和诊断参数

第3章 测试性设计与管理工作概述

第4章 测试性与诊断要求

第5章 故障诊断方案

第6章 测试性与诊断要求分配

第7章 固有测试性设计与评价

第8章 测试点与诊断策略

第9章 测试性/BIT设计技术

第10章 BIT虚警问题及降低虚警率方法

第11章 系统测试性与诊断的外部接口

第12章 测试性预计

第13章 测试性验证与评价

附录

常用英文缩略语

参考文献

标签
缩略图
书名 系统测试性设计分析与验证(高等学校通用教材)
副书名
原作名
作者 田仲//石君友
译者
编者
绘者
出版社 北京航空航天大学出版社
商品编码(ISBN) 9787810772976
开本 16开
页数 415
版次 1
装订 平装
字数 691
出版时间 2003-04-01
首版时间 2003-04-01
印刷时间 2009-09-01
正文语种
读者对象 青年(14-20岁),研究人员,普通成人
适用范围
发行范围 公开发行
发行模式 实体书
首发网站
连载网址
图书大类 教育考试-大中专教材-成人教育
图书小类
重量 0.602
CIP核字
中图分类号 N945.17
丛书名
印张 27
印次 3
出版地 北京
260
185
15
整理
媒质 图书
用纸 普通纸
是否注音
影印版本 原版
出版商国别 CN
是否套装 单册
著作权合同登记号
版权提供者
定价
印数 5000
出品方
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更新时间:2025/5/8 19:37:02