本书共4章，分别介绍三种基本微电子器件——PN结二极管、双极型晶体管（BJT）和绝缘栅场效应晶体管（MOSFET）的基本工作原理、仿真实验、测试实验和PSpice模型提取实验。
本书可作为高等学校电子科学与技术、集成电路设计与集成系统、微电子学等专业相关实验课程的教材，也可供其他相关专业的本科生、研究生和工程技术人员阅读参考。

第1章 微电子器件基础知识
1.1 PN结二极管
1.1.1 二极管的基本结构
1.1.2 PN结二极管的伏安特性
1.1.3 二极管的击穿电压
1.1.4 PN结二极管的电容特性
1.1.5 PN结二极管的开关特性
1.2 双极型晶体管（BJT）
1.2.1 BJT的基本结构
1.2.2 BJT的放大作用与电流放大系数
1.2.3 BJT的输出特性曲线
1.2.4 BJT的反向截止电流和击穿电压
1.2.5 BJT的大注入效应
1.2.6 BJT的频率特性
1.2.7 BJT的开关特性
1.3 金属-氧化物-半导体场效应晶体管（MOSFET）
1.3.1 MOSFET的基本结构
1.3.2 转移特性曲线和输出特性曲线
1.3.3 MOSFET的阈电压
1.3.4 MOSFET的非饱和区和饱和区特性
1.3.5 MOSFET的亚阀区特性
1.3.6 MOSFET的开关特性
第2章 微电子器件仿真实验
2.1 器件仿真的基础知识
2.1.1 仿真软件简介
2.1.2 Medici仿真软件的使用
2.1.3 Sentaurus仿真软件的使用
2.2 PN结二极管的仿真
2.2.1 实验目的
2.2.2 实验原理
2.2.3 实验方法
2.2.4 思考题
2.3 双极型晶体管的仿真
2.3.1 实验目的
2.3.2 实验原理
2.3.3 实验方法
2.3.4 思考题
2.4 MOSFET的仿真
2.4.1 实验目的
2.4.2 实验原理
2.4.3 实验方法
2.4.4 思考题
第3章 微电子器件测试实验
3.1 PN结二极管直流参数测试
3.1.1 实验目的
3.1.2 实验原理
3.1.3 实验器材
3.1.4 实验方法和步骤
3.1.5 实验数据处理
3.1.6 思考题
3.2 PN结二极管电容测试
3.2.1 实验目的
3.2.2 实验原理及器材
3.2.3 实验器材
3.2.4 实验方法和步骤
3.2.5 实验数据处理
3.2.6 思考题
3.3 双极型晶体管直流参数测试
3.3.1 实验目的
3.3.2 实验原理
3.3.3 实验器材
3.3.4 实验方法和步骤
3.3.5 实验数据处理
3.3.6 思考题
3.4 MOS场效应晶体管直流参数测试
3.4.1 实验目的
3.4.2 实验原理
3.4.3 实验器材
3.4.4 实验方法和步骤
3.4.5 实验数据处理
3.4.6 思考题
3.5 MOSFET输出电容参数测试
3.5.1 实验目的
3.5.2 实验原理
3.5.3 实验器材
3.5.4 实验方法和步骤
3.5.5 实验数据处理
3.5.6 思考题
3.6 双极型晶体管开关时间测试
3.6.1 实验目的
3.6.2 实验原理
3.6.3 实验器材
3.6.4 实验方法和步骤
3.6.5 实验数据处理
3.6.6 思考题
3.7 双极型晶体管特征频率测试
3.7.1 实验目的
3.7.2 实验原理
3.7.3 实验器材
3.7.4 实验方法和步骤
3.7.5 实验数据处理
3.7.6 思考题
第4章 微电子器件的模型参数提取
4.1 模型提取软件简介
4.2 二极管模型参数的提取
4.2.1 实验目的
4.2.2 实验原理
4.2.3 实验方法和步骤
4.2.4 实验数据处理
4.2.5 实验思考
4.3 双极型晶体管模型参数的提取
4.3.1 实验目的
4.3.2 实验原理
4.3.3 实验方法和步骤
4.3.4 实验数据处理
4.3.5 实验思考
4.4 MOSFET模型参数的提取
4.4.1 实验目的
4.4.2 实验原理
4.4.3 实验方法和步骤
4.4.4 实验数据处理
4.4.5 实验思考
参考文献