以工科专业本科生所掌握的初步理论知识为基础，本书系统地介绍了无机材料中晶体结构的基本对称性、晶体缺陷、X射线衍射和背散射电子检测与分析原理。阐述了晶体对称特征，包括晶系、点阵、点群、简单的空间群知识，以及常见无机材料的晶体结构、晶体取向、多晶体织构的概念及其检测原理。以工程性和实用性为目的，适当介绍了晶体的点缺陷特征、位错弹性性质、晶界取向差特性等，并配有实用性工程材料习题及参考答案。本书旨在使具有不同基础的专业读者对工程材料的晶体结构知识有较全面的掌握，并能够在工程实践中直接加以运用。本书可作为工程应用型材料专业硕士研究生的专业教材，或材料专业高年级本科学生和博士研究生的专业参考书；也可供从事材料科学与工程研究的科研人员、高等学校教师、相关企业的工程技术人员参阅。

章 晶体的基本对称结构及其X射线检测.1
1.1晶体及其基本特性.2
1.1.1晶体的基本概念.2
1.1.2晶体的对称特征.4
1.1.3晶体的基本共性.5
1.2晶体的基本对称性.6
1.2.1平移对称性与点阵理论.6
1.2.2点对称性与点对称操作.9
1.2.3晶体可能的旋转对称性.10
1.2.4点对称操作的坐标变换及常用符号.11
1.2.57种晶系的划分及其单胞边角关系的限制.14
1.2.614种布拉维点阵.15
1.2.7非晶体.19
1.3晶体的晶向、晶面及其几何关系.19
1.3.1晶向指数的常规表达方法.19
1.3.2晶面指数的常规表达方法.21
1.3.3六方晶系的晶向指数和晶面指数.22
1.3.4品面的多重性因子.25
1.3.5晶面、晶向的几何关系.25
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