庹先国著的这本《X射线荧光分析系统技术原理和应用》共11章：第1章扼要介绍X射线基本知识；第2章为X射线荧光分析原理，主要介绍X射线与物质相互作用的三大效应，以及特征X射线能谱知识；第3章为X射线能谱分析方法，主要介绍了X射线能谱分析中常用的算法，并着重介绍了探测器响应函数拟合法；第4章为能量色散X射线荧光的定量分析，详细叙述基体效应的校正、常用的定量计算方法和神经网络方法；第5章为X射线初级辐射激发源，对X射线管、放射性同位素源和加滤光片激发方式做了详细叙述；第6章主要对目前广泛应用于X射线荧光分析中的Si(Li)、Si-PIN、SDD半导体探测器做详细介绍，扼要介绍了偏振X射线荧光探测技术、预衍射X射线荧光探测技术；第7章详细介绍能量色散X射线荧光分析系统中的硬件设计，特别是涉及的一些重要电路进行介绍；第8章详细介绍Windows环境下和LinuX环境下能量色散X射线荧光分析系统中的软件设计；第9章详细介绍能量色散X射线荧光分析系统测试的方法技术要点；第10章扼要介绍能量色散X射线荧光分析在矿石品位、矿产勘查、冶金等工业领域中的应用；第11章介绍在环境评价及其他领域中的应用。

第1章 X射线基本知识
1.1 原子结构
1.1.1 原子结构模型
1.1.2 原子核的组成
1.1.3 核外电子排布
1.2 X射线及其特点
1.2 1 X射线的发现
1.2.2 X射线的性质
1.2.3 X射线的特点
1.3 X射线的激发
参考文献
第2章 X射线荧光分析原理
2.1 莫塞莱定律
2.2 X射线在物质中的物理作用
2.2.1 简介
2.2.2 X射线与物质相互作用原理
2.3 特征X射线能谱
2.3.1 全能峰分布
2.3.2 散射谱线与谱线拖尾
2.4.X射线荧光计数率计算
参考文献
第3章 X射线能谱分析方法
3.1 能量刻度
3.2 剥谱法
3.3 逆矩阵法
3.4 加权最小二乘法
3.5 探测器响应函数拟合法
3.5.1 SDD和Si—PIN探测器响应函数的组成
3.5.2 拟合优度评价因子
参考文献
第4章 能量色散X射线荧光的定量分析
4.1 基体效应
4.1.1 影响基体效应的因素
4.1.2 基体效应的校正方法
4.2 定量计算方法
4.2.1 比值分析方法
4.2.2 工作曲线分析方法
4.2.3 谱库最小二乘法
4.3 神经网络非线性预测
4.3.1 自组织特征映射网络
4.3.2 径向基函数网络
4.3.3 神经网络校正技术的应用
4.4 X射线荧光分析检出限
4.4.1 X射线荧光分析的检出限
4.4.2 检出限的基本公式推导
4.4.3 改善检出限的方法
参考文献
第5章 X射线初级辐射激发源
5.1 X射线管
5.1.1 X射线管的工作原理
5.1.2 典型X射线管的结构特点
5.1.3 特殊构造的X射线管
5.2 放射性同位素源
5.2.1 同位素源的要求与特点
5.2.2 同位素放射源的组成
5.2.3 几种常用的放射性同位素源
5.3 加滤光片的直接激发方式
5.3.1 滤片工作原理
5.3.2 滤片厚度的理论计算
5.3.3 滤片的制作工艺简述
5.3.4 滤片平衡性的测定和调整
参考文献
第6章 X射线荧光的探测
6.1 X射线探测器
6.1.1 半导体探测器的主要性能
6.1.2 Si(Li)探测器
6.1.3 Si-PIN探测器
6.1.4 SDD探测器
6.1.5 Si-PIN与SDD的比较
6.2 偏振X射线荧光探测技术
6.2.1 X射线荧光偏振化技术的原理
6.2.2 偏振能量色散X射线荧光谱仪的结构
6.2.3 激发源
……
第7章 能量色散X射线荧光分析硬件设计
第8章 能量色散X射线荧光分析软件设计
第9章 能量色散X射线荧光分析系统测试
第10章 工业分析领域中的应用
第11章 环境评价及其他领域中的应用
附录