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图书 专利视角下的半导体量检测关键技术
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本书创新性地开展“双线联动”和“双维定位”特色分析,重点研究了半导体产业关键核心技术的专利布局脉络和重点申请人布局情况,研究内容紧扣当下产业急需和未来发展趋势,不仅可以为现有科研工作提供有力的支撑,而且为未来的科研工作提供了有效的科研情报信息。本书是了解该行业技术发展现状并预测未来走向、帮助企业做好专利预警的推荐工具书。
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书名 专利视角下的半导体量检测关键技术
副书名
原作名
作者 国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心
译者
编者
绘者
出版社 知识产权出版社
商品编码(ISBN) 9787513094962
开本 其他
页数
版次 1
装订
字数
出版时间 2024-09-01
首版时间
印刷时间
正文语种
读者对象
适用范围
发行范围
发行模式 实体书
首发网站
连载网址
图书大类 人文社科-法律-法学理论
图书小类
重量
CIP核字
中图分类号 G306
丛书名
印张
印次
出版地
整理
媒质
用纸
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更新时间:2025/5/7 5:09:57